天瑞EDx射线荧光谱分析仪是一种较新型的可以对多元众进行快速同时侧定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（即X一荧光）.波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两 EDx射线荧光谱分析仪EDX3600H是天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。

天瑞X荧光光谱仪EDX3600K由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。X荧光光谱仪属于良好的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构。

国内X荧光光谱仪Edx9000p正是秉承了这一理念。它不仅继承了天瑞仪器EDX系列准确、快速、无损、直观及环保五大特点，采用分析仪器行业良好的极速探测器技术（X-SDD）可将测试时间降低到1秒。同时EDX 9000P还采用了天瑞仪器产品精密的定位系统，可实现图像联动控制，多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便，全新设计自动样品平台让准确检测得到保证。

XRF荧光光谱仪EDX4500H是一种较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（即X荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。

国产X荧光光谱分析仪EDX4500H是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。 该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。