光谱型膜厚测试仪：俗称X荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪，电镀层厚度分析仪，金属镀层测厚仪，电镀厚度测量仪，电镀厚度检测仪，连续度检测仪，光谱镀层测厚仪，镀层厚度分析仪，镀层测量仪，电镀层分析仪等； 功能：精密测量金属电镀层的厚度；

Thick 8000电镀层膜厚测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：金属镀层（镀金、镀镍、镀锌）的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。 电镀层膜厚测试仪

随着市场竞争日益激烈，企业成本的不断提高，客户对（THICK800A）的测试精度要求越来越高，普通的无法满足客户的要求，通过X射线照射，不同元素的发射出不同能量及强度的X光，通过接收器及软件分析来精确分析金属（铝合金、铜合金）电镀层（镀锌、镀镍、镀金、镀银、镀锡等）的厚度，电镀膜厚测试仪厂家，*无损分析，Z多一次分析五层，Z薄可分析0.