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金属元素检测分析仪

简要描述:

天瑞仪器公司是专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF金属元素检测分析仪)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光元素检测分析仪EDX3600H,融汇*的合金分析技术,配备合金测试效果...

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产品介绍

 

天瑞仪器公司是全球专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF金属元素检测分析仪)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光金属元素检测分析仪EDX3600H,融汇全球*的合金分析技术,配备合金测试效果的智能真空系统,利用低能光管配合真空测试,可以有效的降低干扰,提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。

EDX3600H金属元素检测分析仪是天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。 
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。 
同时具有合金测试、合号分析、有害元素分析,土壤分析仪、贵金属分析等功能。 
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等,形态为固体、液体、粉末等。

 

性能特点

 

高效超薄窗X光管,指标达到国际较高水平 
针对合金的测试而开发的配件 
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比 
天瑞仪器产品—信噪比增强器(SNE),提高信号处理能力25倍以上 
低能X射线激发待测元素,对Pb、S等微含量元素激发效果好 
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围 
自动稳谱装置保证了仪器工作的*性; 
高信噪比的电子线路单元 
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐 
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制; 
内置高清晰摄像头 
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然

 

标准配置

 

合金测试高效超薄窗X光管 
超薄窗大面积的*SDD探测器
信噪比增强器 SNE
光路增强系统 
高信噪比电子线路单元 
内置高清晰摄像头 
自动切换型准直器和滤光片 
自动稳谱装置 
三重安全保护模式 
相互独立的基体效应校正模型 
多变量非线性回归程序 
整体钢架结构,力度可靠的保证 
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸:660mm×510mm×350mm 
样品腔体积:Φ320mm×100mm
重量:65Kg

 

技术指标

 

测量元素范围:从钠(Na)到铀(U) 
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同) 
同时分析元素:一次性可测几十种元素 
测量时间:60秒-200秒 
能量分辨率为:(140±5)eV 
管压:5KV-50KV 
管流:50uA-1000uA

 

应用领域

 

金属元素检测分析仪检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品

 

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检测实例

 

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