关于X荧光光谱仪的那些知识X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性，所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。X射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分布是否有变化，样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作，还必须防止样品的损失和污染。X荧光光谱仪分析法中不同样品有不同的制样方法。金属样品如...

这么好用的金属元素分析仪，您值得拥有金属元素分析仪是企业理化分析中常用的一种普及型计量器具，由于它使用方便，测试快速，因而广泛用于现场分析，可以对金属或非金属材料中的金属元素百分含量进行定量检测试。该分析仪可检测普碳钢、低合金钢、高合金钢、生铸铁、球铁、合金铸铁、不锈钢、铜合金、铝合金等多种材料中的C、S以及Si、Mn、P、Cr、Ni、Mo等多种元素。可以满足冶金、机械、化工等行业在炉前、成品、来料化验等方面对材料多元素分析的需要。金属元素分析仪的优势特点都有哪些呢？想知道的...

这么好用的X荧光光谱仪，忍不住推荐给你X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性，所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。X射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分布是否有变化，样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作，还必须防止样品的损失和沾污。X荧光光谱仪的优势特点都有哪些呢？1、设计理...

关于镀层厚度测试仪，您想了解的都在这里了镀层厚度测试仪镀层厚度要求在阴极表面上分布的均匀性和完整性，是决定镀层厚度要求质量的一个重要因素，它在一定程度上影响着镀层厚度要求的防护性能。在电镀中常用分散能力和覆盖能力来分别评定金属镀层厚度要求在阴极上分布的均匀性和完整性。镀层厚度要求在零件上分布的完整程度。覆盖能力越高，镀得越深。本产品的测量原理是由原子物理学的知识，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以其*的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能...

金属元素分析仪化验钢铁的取样细节介绍金属元素分析仪是国内一款新型的多元素分析仪，可检测普碳钢、低合金钢、高合金钢、生铸铁、球铁、合金铸铁等多种材料中的锰、铜、镍、铬、钼、稀土、镁、钛、锌、铝、铁等多种元素。品牌电脑微机控制,全中文菜单式操作,打印机直接打印结果。本产品融汇合金分析技术，配备智能真空系统，利用低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。金属元素分析仪的化验钢铁的取样及制取方法细节分析：1、所采...

X射线荧光光谱仪的主要组件应该怎样去选择？X射线荧光光谱仪是X射线光管发出的初级X射线照射样品，样品中原子的内层电子被激发，当外层电子跃迁时产生特征X射线，通过分析样品中不同元素产生的特征荧光X射线波长（或能量）和强度，可以获得样品中的元素组成与含量信息，达到定性定量分析的目的。该光谱仪的分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析重要的技术手段之一，各种与X射线荧光光谱相关的分析技术，如同步辐射XRF、全反射XRF光谱技术...

合金分析仪的主要特点是什么？合金分析仪是一种XRF光谱分析技术，X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子，出现壳层空穴，当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时，就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。本产品的核心部件，比如，X射线管，检测器，高压发生器成本很高，对操作人员来说，要引起足够的重视，一旦因为放置不当，摔坏，维修成本就很大。如果被尖锐物体扎破的检测器也要花费很大的成本...

不了解镀层测厚仪的赶紧看这里了！镀层测厚仪的测量方法主要有、楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。它是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的*手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。镀层测厚仪的性能特点有哪些？1、...