开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。 信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机 Si-PIN半导体探测器优点 能量线性好能量分辨率高，分辨率在160±5ev时间响应快，时间分辨好窗口材料薄灵敏区厚度可调结构简单，体积小，重量轻对磁场不灵敏

x射线荧光电镀层测厚仪是专业测试金属电镀层厚度的检测仪器，主要测试镀金、镀银、镀铑、镀钯、镀镍、镀铜、镀锌、镀锡等，是一款对产品无损伤设备，测试时间只需要5-40S（跟进产品不同略有差异）

天瑞仪器X光镀层测厚仪是生产厂家的优势，主要用于镀金，镀银，镀铜，镀铑，镀钯，镀镍，镀锌等金属镀层厚度，分析仪器上市企业，thick800A是一款自动化程度较高的仪器，电脑操作，很大方便了客户使用。配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。 浙江地区销售X光镀层测厚仪

新款Thick8000x射线荧光测厚仪秉承了上一代Thick800A的优点，在此基础上设计了三维移动平台，良好的样品观测系统和图像识别功能，满足了槽状样品的测试和不同规格样品的测试，同时加上大面积的高分辨率的探测器，大大提高了准确度，为客户提供更精确的测试，从而降低产品的成本，提高产品的竞争力。

X射线镀层测厚仪是专业测试金属电镀层厚度的检测仪器，主要测试镀金、镀银、镀铑、镀钯、镀镍、镀铜、镀锌、镀锡等，是一款对产品无损伤设备，测试时间只需要5-40S（跟进产品不同略有差异）