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X-Ray电镀膜厚测试仪

简要描述:

X-Ray电镀膜厚测试仪(thick680)是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更...

仪器介绍

 

X-Ray电镀膜厚测试仪(thick680)是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成,测试简单,方便,易于人员快速掌握.

 

性能特点

 

专业贵金属检测、镀层测厚仪

内置信噪比增强器,可有效提高仪器信号处理能力25倍以上

智能贵金属软件,与仪器相得益彰

任意多个可选择的分析和识别模型

多变量非线性回收程序

 

技术指标

 

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管,Be窗

标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等

X射线管:管电压50KV,管电流1mA

可测元素:Ti~U

检测器:正比计数管

样品观察:CCD摄像头

测定软件:薄膜FP法、检量线法

Z轴程控移动高度 20mm

 

标准配置

 

X射线管,正比记数盒,高清摄像头,高度激光,信号检测电子电路。

 

应用领域

 

X-Ray电镀膜厚测试仪主要用于金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。广泛应用于电子电器、五金工具、精密汽车配件、表面处理、PCB线路板等企业。

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