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天瑞Thick800a镀层厚度荧光检测仪

简要描述:

天瑞Thick800a镀层厚度荧光检测仪仪器采用天瑞软件研发团队研发的能量色散X荧光FpThick软件,良好的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作。谱图区域采用动态模式,测试时元素观察更直观。
软件具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

参数规格

 

1   分析元素范围:S-U2   同时可分析多达5层以上镀层3   分析厚度检出限达0.005μm4   多次测量重复性可达0.01μm5   定位精度:0.1mm6   测量时间:30s-300s7   计数率:1300-8000cps8   Z轴升降范围:0-140mm9   X/Y平台可移动行程:50mm(W)×50mm(D) 

性能特点

 

1.满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求2.φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求,可以对同一镀件不同部位测试厚度3.高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光,可自动定位测试高度5.定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐6.鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点7.高分辨率探头使分析结果更加精准8.良好的射线屏蔽作用9.测试口高度敏感性传感器保护 

天瑞Thick800a镀层厚度荧光检测仪测试实例

 

镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试,其测试位置如图。 结论

实验表明,使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试,结果准确度高,速度快(几十秒),其测试效果*可以和显微镜测试法媲美。

 

镀层厚度测试方法一般有以下几种方法:1.光学显微镜法。适用标准为:GB/T6462-20052.X-ray法(X射线法)。适用标准为:GB/T16921-2005

3.库仑法,此法一般为仲裁方法。适用标准为:GB/T4955-2005

 

Thick800A镀层厚度荧光检测仪是天瑞仪器销量的镀层测厚仪;仪器采用上照式结构,测试,软件界面简洁,测试样品用时40S,售后服务可靠及时。

 

天瑞Thick800a镀层厚度荧光检测仪仪器配置

                                            

1    硬件:主机壹台,含下列主要部件: ①X光管                    ②半导体探测器③放大电路                  ④高精度样品移动平台⑤高清晰摄像头             ⑥高压系统⑦上照、开放式样品腔        ⑧双激光定位⑨玻璃屏蔽罩2   软件:天瑞X射线rel="nofollow" 荧光光谱仪FpThick分析软件V1.03   计算机、打印机各一台计算机(品牌,P4,液晶显示屏)、打印机(佳能,彩色喷墨打印机)4   资料:使用说明书(包括软件操作说明书和硬件使用说明书)、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。5   标准附件准直孔:0.1X1.0mm(已内置于仪器中)

 

测量标准

 

1.国标GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法2.美国标准A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

 

应用行业

 

1.电子半导体行业接插件和触点的厚度测量2.印刷线路板行业功能镀层厚度测量3.贵金属首饰手表行业镀层厚度测量

4.五金电镀行业各种防腐性、装饰性及功能镀层厚度测量

 

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