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x荧光(x-ray)镀层测厚仪thick680

简要描述:

x荧光(x-ray)镀层测厚仪thick680快速检测镀层厚度分析,质量稳定性价比优越,天瑞x荧光测厚仪适合用于电镀加工企业,五金厂,汽车零部件,PCB线路板,手机连接线,电脑配件,首饰加工等行业。

x荧光(x-ray)镀层测厚仪的工作原理是利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。

  

Thick 680 x荧光(x-ray)镀层测厚仪是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成

性能特点

专业贵金属检测
智能贵金属软件,与仪器相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
多变量非线性回收程序

技术指标

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
X射线管:管电压50KV,管电流1mA
可测元素:Ti~U
检测器:正比计数管
样品观察:CCD摄像头
测定软件:薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm

标准配置

X射线管,正比记数盒,高清摄像头,高度激光,信号检测电子电路。

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