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XRF镀层膜厚thick800a测试仪

简要描述:

XRF镀层膜厚thick800a测试仪是一款通过X射线原理快速、无损测试镀层膜厚的仪器,主要应用于金属镀层(镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀银……)膜厚的检测仪,天瑞仪器是国内早研发生产XRF系列产品的厂家,XRF镀层膜厚测试仪也是打破了国外垄断的局面,让客户以的价格买到性价比的仪器

XRF镀层膜厚测试仪产品介绍

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XRF镀层膜厚测试仪是一款通过X射线原理快速、无损测试镀层膜厚的仪器,主要应用于金属镀层(镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀银……)膜厚的检测仪,天瑞仪器是国内早研发生产XRF系列产品的厂家,XRF镀层膜厚测试仪也是打破了国外垄断的局面,让客户以的价格买到性价比的仪器,为企业降低采购成本的同时,也为国产仪器的发展做出了微薄的贡献。

 

xrf镀层膜厚测试仪性能特点

 

定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度

 

xrf镀层膜厚测试仪标准配置

 

开放式样品腔,满足大样品测试
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机(可以保存和实时打印)

 

xrf镀层膜厚测试仪技术指标

 

多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
型号:Thick 800A XRF镀层膜厚测试仪
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

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