产品中心您现在的位置:首页 > 产品展示 > > 电镀层测厚仪 > thick800x荧光测金属厚度测厚仪设备

x荧光测金属厚度测厚仪设备

简要描述:

x荧光测金属厚度测厚仪设备是天瑞公司专门研发的能散型镀层厚度测试仪,天瑞新科技与智慧的结晶,为新一代镀层厚度分析利器,是电镀业、实验室、科研机构等不可多得的检测和实验助手。

x荧光测金属厚度设备产品介绍

 

Thick800x荧光测金属厚度设备是天瑞公司专门研发的能散型镀层厚度测试仪,天瑞新科技与智慧的结晶,为新一代镀层厚度分析利器,是电镀业、实验室、科研机构等不可多得的检测和实验助手。
可测量各类镀层的厚度,度达到0.01μm,同时镀层分析能力多达5层,能分析单镀层、双镀层、合金镀层等多种镀层类型。整台机器具有精度高、稳定性好、测量范围宽、非破坏、非接触、多层合金测量等特点。

 

x荧光测金属厚度设备技术指标

 

型号:Thick 800
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

 

x荧光测金属厚度设备标准配置

 

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

 

x荧光测金属厚度设备性能特点

 

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

 

留言框

  • 产品:

  • 留言内容:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 详细地址:

  • 省份:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

在线客服
手机
13537572282