使用X-射线荧光原理测厚,将被测物置于仪器中,使待测部位受到X-射线的照射。此时,特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生,而检测系统将其转换为成比例的电信号,且由仪器记录下来,测量X-射线的强度...
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产品分类0755-23025810
使用X-射线荧光原理测厚,将被测物置于仪器中,使待测部位受到X-射线的照射。此时,特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生,而检测系统将其转换为成比例的电信号,且由仪器记录下来,测量X-射线的强度...
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磁性材料镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。磁性材料镀层测厚仪 EDX1800B
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国产膜厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款无损分析测试仪器,膜厚仪可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能*的仪器,配上专门为其开...
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