产品说明、技术参数及配置 EDX-V是天瑞仪器集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款X射线荧光镀层测厚及成分分析仪。仪器采用多导毛细管X射线光学系统,对于微米级尺寸电子零件、芯片针脚、晶圆微区等部件的镀层厚度和成分分析,能进行高效、准确的测量。

天瑞仪器 EDX600Pro 是一款下照式结构的 X 荧光镀层测厚仪，以下是其详细介绍：

产品说明、技术参数及配置 仪器介绍 Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

天瑞仪器 EDX600PLUS 是一款下照式结构的能量色散 X 荧光光谱仪镀层测厚仪，以下是它的一些详细介绍1：

天瑞镀层检测仪是江苏天瑞仪器股份有限公司生产的用于测量镀层等金属薄膜厚度的仪器，以下是关于它的详细介绍： 仪器型号及特点 Thick800A：该型号采用全自动软件操作，可进行多点测试，由软件控制仪器和移动平台。配备 φ0.1mm 的小孔准直器，能满足微小测试点需求；拥有高精度移动平台，重复定位精度小于 0.005mm；采用高度定位激光，可自动定位测试高度；还具备高分辨率探头，能使分析结果更加准确