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天瑞X荧光测厚仪

简要描述:

天瑞X荧光测厚仪主要用于金属镀层厚度的检测,广泛应用于电子电器、五金工具、电镀加工、隔离开关、材料表面处理、电子连接器等企业,多一次分析三层。

产品用途

 

X荧光测厚仪主要用于金属镀层厚度的检测,广泛应用于电子电器、五金工具、电镀加工、隔离开关、材料表面处理、电子连接器等企业,多一次分析三层。

 

天瑞X荧光测厚仪部分产品

 

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天瑞X荧光测厚仪硬件


主机壹台:
含下列主要部件
(1)  X光管                    (2)正比计数器
(3)放大电路                   (4)高清晰摄像头
(5)高压系统                   (6)单样品腔
软件:X荧光光谱仪厚度分析软件
计算机、打印机
仪器使用说明书(包括软件操作说明书和硬件使用说明书)、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。
标准附件
(准直孔:Ф1.0mm)


技术指标


X荧光测厚仪分析元素范围:K-U
计数率:0-10000cps
高压:5kV-50kV
管流:50μA-1000μA
测量时间:5s-300s
分析厚度检出限达0.01μm
样品腔尺寸:306×260×78mm


工作环境要求


周围不能有强电磁干扰。
环境温度要求:15-30
环境相对湿度:<70%
工作电源:交流220±5V
质量保证
X荧光测厚仪质保期一年,仪器终身维修,软件*升级。

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