产品中心您现在的位置:首页 > 产品展示 > 镀层厚度测试仪 > 镀层测厚仪 > Thick800a天瑞X荧光镀层测厚仪

天瑞X荧光镀层测厚仪

简要描述:

天瑞X荧光镀层测厚仪于镀层行业的一款金属镀层测厚仪器,电镀厚度的把握关系到产品的质量以及生产成本,(例如:镀层厚度超过了标准厚度,尤其对贵金属银、金等,将会大大提高产品的成本,从而失去市场竞争力),天瑞仪器生产的Thick800a型X荧光镀层测厚仪配备移动平台,可全自动软件操作,并进行多点测试,检测结果更加精准,实现“傻瓜"式操作。

Thick800a型x荧光镀层测厚仪

 

85_meitu_4.jpg

 

x荧光镀层测厚仪用于镀层行业的一款金属镀层测厚仪器,电镀厚度的把握关系到产品的质量以及生产成本,(例如:镀层厚度超过了标准厚度,尤其对贵金属银、金等,将会大大提高产品的成本,从而失去市场竞争力),天瑞仪器生产的Thick800a型X荧光镀层测厚仪配备移动平台,可全自动软件操作,并进行多点测试,检测结果更加精准,实现“傻瓜”式操作。

 

天瑞X荧光镀层测厚仪性能优势

 

可靠性高:

 

由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。

 

满足不同需求:

 

:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。

 

快速:

 

1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。

 

无损:

 

测试前后,样品无任何形式的变化。

 

直观:

 

实时谱图,可直观显示产品测试点

 

简易:

 

对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。

 

性价比高:

 

相比其他类类仪器,x荧光镀层测厚仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。

 

天瑞X荧光镀层测厚仪技术参数

 

重量:90 kg

 

相互独立的基体效应校正模型

 

多变量非线性回收程序

 

长期工作稳定性高

 

度适应范围为15℃至30℃

 

元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层 

 

一次可同时分析多达五层镀层

 

薄可测试0.005μm

 

分析含量一般为2ppm到99.9% 

 

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

 

任意多个可选择的分析和识别模型

 

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

 

仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

在线客服
手机
13537572282