天瑞x射线膜厚测试仪是一款快速、无损、的电镀城厚度测试仪器,主要用在镀锌(Zn)、镀镍(Ni)、镀锡(Sn)、镀金(Au)、镀银(Ag)等金属镀层厚度测测试,薄可测试0.005μm,为企业严格控制产品质量,防止镀的过厚(增加产品成本)或者过薄(产品不合格)带来的损失。
Thick8000型X射线膜厚测试仪
产品介绍
x射线膜厚测试仪是一款快速、无损、的电镀城厚度测试仪器,主要用在镀锌(Zn)、镀镍(Ni)、镀锡(Sn)、镀金(Au)、镀银(Ag)等金属镀层厚度测测试,薄可测试0.005μm,为企业严格控制产品质量,防止镀的过厚(增加产品成本)或者过薄(产品不合格)带来的损失,天瑞仪器Thick8000x射线膜厚测试仪是新研发生产的一款x射线膜厚测试仪器,精密的三维移动平台和高清摄像头满足了微小产品的测试,产品在行业内得到了广泛的应用和认可,打破了国外垄断的局面。
天瑞x射线膜厚测试仪技术指标
X射线激发源:5OKV/1000μA-钨靶X光管及高压电源
探测器及分辨率:SDD探测器,分辨率140±5eV
定位精度:0.001mm
测量时间:10s及以上
样品平台移动范围:120mm×120mm
样品腔升降平台移动高度:0~150mm
天瑞x射线膜厚测试仪硬件
主机壹台,含下列主要部件:
(1)微焦斑X光管
(2)大面积SDD电制冷半导体探测器
(3)数字多道分析器
(4)超高精度三维移动平台
(5)全景和局部两个工业高清摄像头
(6)高低压电源
(7)激光定位装置及图像自动对焦技术
(8)开放式样品腔及铅玻璃屏蔽罩
(9)电动调节准直器
(10)防撞激光保护器
资料:仪器使用说明书(包括软件操作说明书和硬件使用说明书)、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。
标准附件
准直孔:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种(已内置于仪器中)