上海X射线镀层测厚仪是天瑞集多年的经验,专门研发用于电镀镀层行业的一款膜厚分析测试仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的厚度检测仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
产品介绍
X射线镀层测厚仪是一款无损快速检测设备,采用X射线原理对金属镀层(镀锌,镀镍,镀银,镀金,镀铑,镀钯,镀锡等)厚度检测分析。
Thick800A型X射线镀层测厚仪是天瑞集多年的经验,专门研发用于电镀镀层行业的一款膜厚分析测试仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的厚度检测仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
上海X射线镀层测厚仪性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
上海X射线镀层测厚仪技术指标
型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
X射线镀层测厚仪主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。