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天瑞国产X射线镀层测厚仪

简要描述:

Thick 680天瑞国产X射线镀层测厚仪是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成

广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业

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Thick 680X射线镀层测厚仪是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成

 

天瑞国产X射线镀层测厚仪性能特点

 

专业贵金属检测

智能贵金属软件,与仪器相得益彰

任意多个可选择的分析和识别模型

多变量非线性回收程序

 

天瑞国产X射线镀层测厚仪技术指标

 

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管,Be

标准靶材:Rh靶;任选靶材:WMoAg

X射线管:管电压50KV,管电流1mA

可测元素:TiU

检测器:正比计数管

样品观察:CCD摄像头

测定软件:薄膜FP法、检量线法

Z轴程控移动高度 20mm

 

标准配置

 

X射线管,正比记数盒,高清摄像头,高度激光,信号检测电子电路。

 

应用领域

 

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

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