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X光膜厚仪测厚仪

简要描述:

EDX600X光膜厚仪测厚仪是集天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成。

EDX 600 X光膜厚仪测厚仪——X荧光光谱仪

EDX600X光膜厚仪测厚仪——X荧光光谱仪

 

EDX600X光膜厚仪测厚仪是集天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成。

EDX600X光膜厚仪测厚仪贵金属检测仪使用高效而实用的正比计数盒探测器,以实在的价格定位,满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。

 

性能特点

 

专业贵金属检测、镀层厚度检测。
智能贵金属检测软件,与仪器硬件相得益彰。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。

 

X光膜厚仪测厚仪技术指标

 

元素分析范围:从钾(K)到铀(U)。
测量对象:固体、液体、粉末
分析检出限可达:ppm。
分析含量一般为:ppm到99.9%。
多次测量重复性可达:0.1%。
长期工作稳定性为:0.1%。

 

X光膜厚仪测厚仪标准配置

 

单样品腔。
正比计数盒探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
外观尺寸: 430×380×355mm 
样品腔尺寸:306×260×78mm 
重量:30kg

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