EDX 600 X光膜厚仪测厚仪——X荧光光谱仪

EDX600X光膜厚仪测厚仪——X荧光光谱仪

EDX600X光膜厚仪测厚仪是集天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验，以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。

EDX600X光膜厚仪测厚仪贵金属检测仪使用高效而实用的正比计数盒探测器，以实在的价格定位，满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。

性能特点

专业贵金属检测、镀层厚度检测。
智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。

X光膜厚仪测厚仪技术指标

元素分析范围：从钾（K）到铀（U）。
测量对象：固体、液体、粉末
分析检出限可达：ppm。
分析含量一般为：ppm到99.9％。
多次测量重复性可达：0.1％。
长期工作稳定性为：0.1％。

X光膜厚仪测厚仪标准配置

单样品腔。
正比计数盒探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
外观尺寸： 430×380×355mm 
样品腔尺寸：306×260×78mm 
重量：30kg