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xrf膜厚测试仪thick800a

简要描述:

xrf膜厚测试仪thick800a是一款通过X射线原理快速、无损测试镀层膜厚的仪器,主要应用于金属镀层(镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀银……)膜厚的检测仪,天瑞仪器是国内早研发生产XRF系列产品的厂家,XRF镀层膜厚测试仪也是打破了国外垄断的局面,让客户以的价格买到性价比的仪器,为企业降低采购成本的同时,也为国产仪器的发展做出了微薄的贡献。

XRF膜厚测试仪

 

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产品介绍

 

XRF膜厚测试仪是一款通过X射线原理快速、无损测试镀层膜厚的仪器,主要应用于金属镀层(镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀银……)膜厚的检测仪,天瑞仪器是国内早研发生产XRF系列产品的厂家,XRF镀层膜厚测试仪也是打破了国外垄断的局面,让客户以的价格买到性价比的仪器,为企业降低采购成本的同时,也为国产仪器的发展做出了微薄的贡献。

 

xrf膜厚测试仪thick800a标准配置

 

开放式样品腔,满足大样品测试

精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机(可以保存和实时打印)

 

xrf膜厚测试仪thick800a技术指标

 

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

型号:Thick 800A XRF镀层膜厚测试仪

元素分析范围从硫(S)到铀(U)。

同时可以分析30种以上元素,五层镀层。

分析含量一般为ppm99.9%

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm

重量:90kg

 

性能特点

 

定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光,可自动定位测试高度

 

应用领域

 

XRF膜厚测试仪应用于金属镀层的厚度(镀银、镀金、镀镍、镀锌、镀铬、镀钯等)测量、电镀液和镀层含量的测定,端子连接器、LED、半导体、卫浴洁具、PCB、电子电器、气配五金、珠宝首饰、汽车配件、制冷设备、检测机构以及研究所和高等院校等卫浴等行业。

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