产品中心您现在的位置:首页 > 产品展示 > > 电镀层测厚仪 > Thick8000镀层测厚Thick8000光谱仪

镀层测厚Thick8000光谱仪

简要描述:

镀层测厚Thick8000光谱仪是一款X射线原理检测金属镀层:镀金、镀镍、镀银、镀锌、镀锡、镀铜、镀钯、镀铬等,快速、、操作简单而被广大客户亲睐,主要应用在五金螺丝镀层、线路板镀层、电子连接器镀层、高压开关、PCB板、端子镀层等,江苏天瑞仪器股份有限公司生产的Thick8000镀层测厚光谱仪全自动化操作,多一次可以测试5层,满足不同客户的测试需求。

镀层测厚Thick8000光谱仪性能优势

 

1.精密的三维移动平台
2.的样品观测系统
3.先进的图像识别
4.轻松实现深槽样品的检测
5.四种微孔聚焦准直器,自动切换
6.双重保护措施,实现无缝防撞
7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度

全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动自检、复位;
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样;
关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦;
直接点击全景或局部景图像选取测试点;
点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示结果。

 

镀层测厚Thick8000光谱仪技术指标

 

分析元素范围:硫(S)~铀(U)
同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层
分析含量:一般为2ppm到99.9%
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)
SDD探测器:分辨率低至135eV
先进的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30℃

 

部分产品

 

天瑞仪器产品包括:八大重金属测试仪 ,x射线荧光光谱仪 ,钢铁冶炼光谱仪,X荧光膜厚仪,ROHS检测设备,便携式光谱分析仪,XRF荧光光谱仪,镀层膜厚仪,rohs环保检测仪,  荧光X射线测厚仪,铝合金直读光谱仪,x射线荧光镀层测厚仪 ,ROHS有害元素检测仪,光电直读光谱仪 ,手持式X射线荧光光谱仪,电镀膜厚测试仪,ROHS无铅检测仪 ,镀层测厚光谱仪,手持式荧光光谱仪,X荧光测厚仪等。

 

厂家优势

 

江苏天瑞仪器股份有限公司作为镀层测厚光谱仪生产厂家,在价格上有着的优势,同时公司在不同区域设有售服务网点,保证了周边客户及时,以及后期维护成本低,上市公司,品牌企业。

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

在线客服
手机
13537572282