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天瑞X射线荧光金属镀层分析仪

简要描述:

天瑞X射线荧光金属镀层分析仪是通过X射线进行照射,根据二次反射,每个元素能量不同来分析镀层厚度,是一款无损、快速检测仪器,是天瑞集多年的经验,专门研发用于电镀行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台,实现智能化、自动化,是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,可以测试镀金、镀镍、镀铜、镀铬、镍锌、镀银、镀钯等金属镀层厚度。

 X射线荧光金属镀层分析仪产品介绍

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Thick 800AX射线荧光金属镀层分析仪是通过X射线进行照射,根据二次反射,每个元素能量不同来分析镀层厚度,是一款无损、快速检测仪器,是天瑞集多年的经验,专门研发用于电镀行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台,实现智能化、自动化,是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,可以测试镀金、镀镍、镀铜、镀铬、镍锌、镀银、镀钯等金属镀层厚度。

 

X射线荧光金属镀层分析仪应用领域

 

广泛应用于线路板、五金电镀、首饰、端子、五金零配件、卫浴、自行车、钟表、电子等行业。可测量各类金属层、合金层厚度等。

 

X射线荧光金属镀层分析仪性能优势

 

定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光,可自动定位测试高度

 

X射线荧光金属镀层分析仪技术指标

 

镀层厚度:50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序

重复性:可达0.1%

稳定性:可达0.1%

操作环境温度:1530

元素分析范围:硫(S)~ 铀(U

同时检测元素:多24个元素,5层镀层

检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm

分析含量:2ppm99.9%

电源:交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

外观尺寸: 576W×495D×545Hmm

重量:90kg

 

X射线荧光金属镀层分析仪器配置

 

开放式样品腔

精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动

双激光定位装置

铅玻璃屏蔽罩

Si-Pin探测器

信号检测电子电路

高低压电源

X光管

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机

 

X射线荧光金属镀层分析仪部分产品

 

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