江苏国产X荧光测厚仪thick800a是天瑞仪器专门研发用于镀层行业的一款荧光测厚仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手,国内分析仪器上市企业(股票代码:300165)。
国产X荧光测厚仪
产品介绍
Thick800A X荧光测厚仪(国产)是天瑞仪器专门研发用于镀层行业的一款荧光测厚仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手,国内分析仪器上市企业(股票代码:300165)。
性能特点
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号:Thick 800A
分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm。
分析含量一般为2ppm到99.9%
X荧光测厚仪元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
一次可同时分析多24个元素,五层镀层。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
可以测试黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
X荧光测厚仪(国产)主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀企业、半导体企业、电子连接器、五金工具企业、电子电器企业。