EDX Thick 800 是天瑞仪器股份有限公司集多年 X 荧光测厚仪经验，专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪，以下是它的一些详细信息1：

应用领域：可对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行精确检测，广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。

测量元素范围：13 号铝（Al）至 92 号铀（U）之间的元素均可测量。

同时检测能力：可同时分析 5 层以上镀层，并测量 24 种元素。

检出限：金属镀层分析最薄可达 0.005μm。

厚度范围：分析镀层厚度一般在 50μm 以内。

厚度测试精度：＜5%。

含量测试范围：0.1%-99.9%。

含量检测精度：＜0.5%。

稳定性：多次测量重复性可达 1%。

检测时间：5-40 秒。

探测器及分辨率：140±5eV 大窗口 SDD 半导体 Be 窗探测器。

X 射线装置：100W 高功率微聚光 W 靶光管。

多道分析器：DMCA 数字多道分析技术，分析道数 4096 道。

准直器和滤光片标配：标配 Φ0.2mm；选配 0.1×0.2mm、Φ0.15mm、Φ0.3mm 或其他孔径，最小测试直径 Al 或 Ni 滤光片Ф0.1mm。

样品观察：工业级高敏感摄像头，图像可放大 30 倍，实现微小样品清晰定位。

对焦：手动测距对焦。

分析方法：FP 法与 EC 法兼容的镀层厚度分析方法。

硬件配置：采用高分辨率的 SDD 探测器，进口的大功率高压，配备微聚焦的 X 光管，全新的光路系统，搭配高分辨率可变焦摄像头，配合高性能距离补正算法，实现对不规则样品的异型测试面的精确测试。

外形尺寸：415（W）×374（D）×218（H）mm。

工作电源：交流 220±5V。