金属镀层测厚仪器为什么选择天瑞thick800a 快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。 方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。

THICK680电镀膜厚检测仪通过X射线照射，不同元素的发射出不同能量及强度的X光，通过接收器及软件分析来精确分析金属（铝合金、铜合金）电镀层（镀锌、镀镍、镀金、镀银、镀锡等）的厚度，一次分析五层，Z薄可分析0.005μm。