镀层测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表，在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用频率变化的厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。镀层测厚仪误差的解决办法：测厚仪在实际应用中，尤其是在役设备的监测中，如果出现示值失真，偏离实际厚度的现象，结果造成管线（设备）隐患存在，就是依据错误的数据更换了管件，造成大量材料浪费。根据几年来测厚...

X荧光光谱仪属于无损害的测量仪器设备，它的优势就是在测量样品时不需要提前进行特殊的处理即可测量的仪器，能够迅速获得测量的结果。但对于样品形状、大小能够满足测量的需求，以及是否存在干扰元素都将对X荧光光谱仪测量结果的精准度造成一定的影响。样品大小应依据X荧光光谱仪光斑的大小进行区分，光斑可以*照在样品上并且其的厚度也能达到相应的要求，能直接放置在测试室当中进行测量。光斑无法直接照在样品上，也就是说样品小于光斑，应该放在同一样品杯中，达到相应量，再进行压紧，切不可留有间隙，最后实...

镀层测厚仪主要用于金属材料表面涂镀层厚度的测量，一般常采用无损检测方法。但是，由于测量对象、测量方法、测量环境、仪器设备等因素引进了诸多测量误差，为确保测量结果的准确可靠，有必要对其进行不确定度分析。镀层厚度的测试方法按照测试方法的基本原理类型可以分为化学法、电化学法和物理法三大类。其中，⑴化学法包括化学溶解分析法、化学溶解称重法和化学溶解液流计时法；⑵电化学法包括电化学阳极溶解法(库仑法)；⑶物理法包括直接测量法和仪器测量法(磁性法、非磁性法、X射线法和电镜法等)。镀层厚度...

X荧光光谱仪是一种常用的光谱技术，既可用于材料的组成成分分析，又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。对于不同的应用用途，X荧光光谱仪体系中探测器的选择也不尽相同。对于定性分析往往需要用到硅漂移探测器。硅漂移探测器（SDDs）能够提高低能量敏感度，使得X射线荧光光谱技术可以对一些低原子序数元素进行检测分析，甚至是在空气气氛中也能进行检测，例如用于测量化学镀镍涂层中磷元素（原子序数Z=15）的含量。但是，大多数的低原子序数元素的检测分析依然还需要隔离空气气氛。近年来比较流行的是一种...

对样品进行测试时，样品的拆分一定要做好相关的准备工作，然后按照要求进行拆分。以下内容详细介绍ROHS检测仪器测试样品时的拆分准备与要求：一、环境1、拆分区域与实验室拆分区域应相对，并足够用于拆分操作。保持拆分环境洁净，室内温度在20-25度左右，湿度低于80%。对温湿度应实施监控，并应避免阳光直射。本要求同时适合于ROHS测试实验室的环境要求。2、拆分工作台拆分工作台应平整呢个、洁净、耐磨损、耐腐蚀、有足够承重力，台面面积应满足拆分工作和样品摆放的要求。3、安全防护应避免拆分...

X荧光光谱仪的分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性，所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。X射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分布是否有变化，样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作，还必须防止样品的损失和沾污。1、由样品制备和样品自身引起的误差：（1）样品的均匀性。（2）样品的表面效应。（...

覆层的厚度测量已成为金属加工工业进行成品质量检测必要的最重要的工序，镀层测厚仪的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要，下面总结测厚仪购买需要注意的八大事项：1.首先需要了解测试的需求，如测试基体材料、涂镀层材料、测试范围及精度需求，若湿膜或高温条件下测量时需特别说明。2.其次对于塑料膜，纸巾，锡纸厚度的测量，测量仪型号的选择不受限制。3.对于有曲率的工件需提供曲率半径值，对比镀层测厚仪的曲率是否满足现场测量需求，如超标需要配置特配探头。4.从正规渠道购买镀层测...

镀层是一种用金属在表面沉积的工艺，已有数百年的历史，被广泛应用于轻工业、电子电气、机械等行业，现已成为了社会发展中不可少的基础工艺。随着工业经济对镀层技术的需求日期增加，对电镀层的质量也有了更严格的要求。这也要求对电镀制品的检查方法和评判技术，需要在时间、方法、精准度等方面更加高效。镀层质量检查的内容因零件和镀层而异，但其中镀层的厚度是镀件品质的最重要保证因素。相比于传统的阳极溶解库仑法、金相法、溶解称重法、液流法、点滴法等镀层测量方法，XRF技术因为其无损、快速、可靠等优点...