X荧光光谱仪是一种常用的光谱技术，既可用于材料的组成成分分析，又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。对于不同的应用用途，X荧光光谱仪体系中探测器的选择也不尽相同。对于定性分析往往需要用到硅漂移探测器。硅漂移探测器（SDDs）能够提高低能量敏感度，使得X射线荧光光谱技术可以对一些低原子序数元素进行检测分析，甚至是在空气气氛中也能进行检测，例如用于测量化学镀镍涂层中磷元素（原子序数Z=15）的含量。但是，大多数的低原子序数元素的检测分析依然还需要隔离空气气氛。近年来比较流行的是一种...

对样品进行测试时，样品的拆分一定要做好相关的准备工作，然后按照要求进行拆分。以下内容详细介绍ROHS检测仪器测试样品时的拆分准备与要求：一、环境1、拆分区域与实验室拆分区域应相对，并足够用于拆分操作。保持拆分环境洁净，室内温度在20-25度左右，湿度低于80%。对温湿度应实施监控，并应避免阳光直射。本要求同时适合于ROHS测试实验室的环境要求。2、拆分工作台拆分工作台应平整呢个、洁净、耐磨损、耐腐蚀、有足够承重力，台面面积应满足拆分工作和样品摆放的要求。3、安全防护应避免拆分...

X荧光光谱仪的分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性，所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。X射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分布是否有变化，样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作，还必须防止样品的损失和沾污。1、由样品制备和样品自身引起的误差：（1）样品的均匀性。（2）样品的表面效应。（...

覆层的厚度测量已成为金属加工工业进行成品质量检测必要的最重要的工序，镀层测厚仪的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要，下面总结测厚仪购买需要注意的八大事项：1.首先需要了解测试的需求，如测试基体材料、涂镀层材料、测试范围及精度需求，若湿膜或高温条件下测量时需特别说明。2.其次对于塑料膜，纸巾，锡纸厚度的测量，测量仪型号的选择不受限制。3.对于有曲率的工件需提供曲率半径值，对比镀层测厚仪的曲率是否满足现场测量需求，如超标需要配置特配探头。4.从正规渠道购买镀层测...

镀层是一种用金属在表面沉积的工艺，已有数百年的历史，被广泛应用于轻工业、电子电气、机械等行业，现已成为了社会发展中不可少的基础工艺。随着工业经济对镀层技术的需求日期增加，对电镀层的质量也有了更严格的要求。这也要求对电镀制品的检查方法和评判技术，需要在时间、方法、精准度等方面更加高效。镀层质量检查的内容因零件和镀层而异，但其中镀层的厚度是镀件品质的最重要保证因素。相比于传统的阳极溶解库仑法、金相法、溶解称重法、液流法、点滴法等镀层测量方法，XRF技术因为其无损、快速、可靠等优点...

镀层测量仪的测量方法主要有、楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。它是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的重要手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。镀层测量仪的性能特点有哪些？1、采用双功能内置式探头，自动识别...

ROHS检测仪器就是X射线荧光光谱仪，其分析事理也就是X射线荧光光谱仪的分析事理。X射线荧光光谱仪常日可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪紧张部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和干系电子与控制部件，相对大略。波长色散X射线荧光光谱仪利用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，颠末进程测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：λ=2dsinaθ(n=1,...

合金分析仪主要用于钢铁、石化、电力、医药等领域金属材料中元素成分的现场测定。随着世界经济的崛起，它是快速识别零部件的工具。合金分析仪可以定量分析元素周期表中90%以上的元素，从镁到较重的元素。这些可测量的元素涵盖了我们商业开发和合金中使用的大多数传统元素。合金分析仪使用的的测试x光荧光分析仪技术能力的方法，可以根据获得材料的主要成分信息，获得铝合金、不锈钢、铬钼合金、多管和法兰材料。很多公司都是基于这些合金、青铜合金等材料。比镁轻的元素不能用合金分析仪直接检测。合金分析仪检测...