天瑞仪器 EDX600PLUS 是一款下照式结构的能量色散 X 荧光光谱仪镀层测厚仪，以下是它的一些详细介绍1：
工作原理：将 X 射线照射在样品上，通过测量从样品上反射出来的二次 X 射线的强度来计算镀层等金属薄膜的厚度。由于采用 X 射线荧光技术，属于无接触无损测量，不会对样品造成损坏。
硬件配置：
进口的高功率高压单元搭配微焦斑的 X 光管，保证了信号输出的效率与稳定性。
采用高分辨率 Fast - SDD 探测器，分辨率高达 140eV，能精准地解析每个元素的特征信号，地将不同的元素准确解析，针对多镀层与复杂合金镀层的测量具有优势。
可搭配多种超小准直器，如 0.1×0.3mm、Φ0.15mm、Φ0.2mm、Φ0.3mm、Φ0.5mm 等，得到超小光斑，让更小样品的测量变得游刃有余。
设计亮点：
全新的下照式设计，一键式按钮，极大减少摆放样品时间。
全新的光路系统，大大减少了光斑的扩散，实现对更小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头，配合高性能距离补正算法，可对不规则样品（如凹凸面、拱形、螺纹、曲面等）的异型测试面进行精准测试。
软件界面：人性化的软件界面，操作便捷。曲线有中文备注，易于上手。同时能实时监控仪器硬件功能，让使用更加放心。
功能特点：
应用领域：广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域，可用于连接器、汽车配件、线路板、半导体等产品的镀层厚度测量。
产品简介
当前位置：
上一个：
返回列表
