天瑞仪器 Thick800A 是一款功能强大的 X 荧光镀层测厚仪，以下是其详细介绍1：
精准定位测试：配备高精度移动平台，重复定位精度小于 0.005mm，可准确定位测试点。采用高度定位激光，能自动定位测试高度，通过定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐，还可通过鼠标控制移动平台，点击位置即为被测点，满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求。
微小测试点分析：φ0.1mm 的小孔准直器可满足微小测试点的需求。
高分辨率检测：高分辨率探头搭配高性能电致冷半导体探测器，使分析结果更加准确。
安全防护完善：具有良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器可保护测试口不被样品撞击。
元素分析范围：从硫（S）到铀（U）。
元素与镀层分析能力：同时可分析 30 种以上元素，五层镀层。
分析含量范围：一般为 ppm 到 99.9%。
镀层厚度测量范围：一般在 50μm 以内（每种材料有所不同）。
其他参数：温度适应范围为 15℃至 30℃，电源为交流 220V±5V，建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸为 576 (W)×495 (D)×545 (H) mm，样品室尺寸为 500 (W)×350 (D)×140 (H) mm，重量为 90kg。
包括开放式样品腔、二维移动样品平台（探测器和 X 光管上下可动，实现三维移动）、双激光定位装置、铅玻璃屏蔽罩、FAST - SDD 探测器、信号检测电子电路、高低压电源、X 光管、高度传感器、保护传感器、计算机及喷墨打印机。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业、银行、首饰销售和检测机构、电镀行业，可进行黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测，以及金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定。
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